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高分辨场发射扫描电子显微镜(设备编号:20149F18)

当前状态: 正常
型号SU8220
仪器认证
规格二次电子分辨率:0.8 nm (Vacc 15 kV,WD=4 mm),1.1 nm (Landing Voltage1 kV);冷场发射电子枪;配备高位器、低位、顶部二次电子探测器
制造厂商HITACHI 日立
出厂日期
所属单位光电专业实验室
放置地点望江基教楼A116(116)
类别分析仪器>>电子光学仪器>>扫描电镜
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学科领域
高技术服务
主要功能 1. 超高分辨率观察。利用其超高的二次电子分辨率:0.8 nm (Vacc 15 kV,WD=4 mm),1.1 nm
主要技术指标 1.二次电子分辨率:0.8 nm (Vacc 15 kV,WD=4 mm),1.1 nm (Landing Voltage1 kV);
2放大倍率: 20~800,000倍(底片放大倍率);
3电子光
备 注